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■半導体前工程
超小型アクティブ除振台
アクテイブ除振台ラインナップ
ハンディAFM
オープンＡＦＭ ＮＳ-100
オープンＡＦＭ ＮＳ−１００（プレゼン資料）
カーボンナノチューブプローブ
スーパーマクロ ＳＭ75
ウエハーエッジ外観検査機
パターン検査装置
ウエハー厚さ測定機
全自動ＡＦＭ測定装置
全自動ＳＩＣ検査装置
化合物ウエハー複合検査装置
チップクラック検査装置
■半導体後工程
ハンダフィレット３次元測定装置
高精度３次元ワイヤー外観検査装置
高速３次元ワイヤー外観検査装置
インクマーク検査装置
X線画像処理装置
マイクロバンプ３次元測定装置
半田ペーストクズ付着検査装置
顕微鏡型画像計測システム(cp-30）
異物検査装置
バンプサーフ
ＩＧＢＴワイヤーボンディング３Ｄ外観検査装置
超高速３次元測定装置
■ＦＰＤ
ＩＴＯ検査装置
透明膜検査照明装置
ガラス基盤外形検査装置(PSI-50)
■自動車
カムシャフト外観検査装置
電子投影機 ＥＰ５００
シリンダー内面検査装置
タイヤ測定装置
■電子部品
反り測定装置
Ｘ線式自動巻きズレ検査装置 ＢＩＳ-100
フィルム異物検査装置
スクラッチ検査装置
画像処理用スケール
高速異物検査装置
レンズ外観検査装置
レンズ高さ検査装置
レンズ検査装置
ピンゲージ外観検査装置
ダイヤモンド砥粒（とりゅう）検査装置
ダイヤモンド電着検査装置
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